Новости библиотеки: тестовый доступ к базе данных патентов Patbase Express

27.01.2016
Нашему университету предоставлен тестовый доступ к к мировой базе данных семейств патентов-аналогов с полным текстом - Patbase Express.

Patbase Express охватывает свыше 90 миллионов патентов и сопутствующих документов из более чем 100 стран, обновляется еженедельно. 

Тестовый доступ продлится до 26 февраля 2016 года.

Для того, чтобы начать работу Вам нужно зайти по ссылке 
www.patbase.com/express 

и ввести логин и пароль, которые можно получить в электронных залах библиотеки (103-VI, 404-VI).

Возврат к списку






Система Orphus Яндекс.Метрика
Сайт не поддерживает браузер Internet Explorer 6 и 7. Пожалуйста, обновите свой браузер.